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x射线的物相分析可以定性也可以定量。

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宏观应力测定对样品台的要求与织构测定的样品台相似。

宏观应力的测定原理是分析不同方向上材料中的晶面面间距的变化规律。

采用x射线可以无损宏观应力测定。

织构测定需要采用平行光和点光源。