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采用x射线可以无损宏观应力测定。

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织构测定需要采用平行光和点光源。

物相分析和织构分析对衍射仪的要求相同。

任意大小的样品都可以采用x射线方法进行织构测定。

反射法织构测定时，在一定范围内，得到的衍射强度不需要修正。