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宏观应力的测定原理是分析不同方向上材料中的晶面面间距的变化规律。

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采用x射线可以无损宏观应力测定。

织构测定需要采用平行光和点光源。

物相分析和织构分析对衍射仪的要求相同。

任意大小的样品都可以采用x射线方法进行织构测定。

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