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任意大小的样品都可以采用x射线方法进行织构测定。

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反射法织构测定时，在一定范围内，得到的衍射强度不需要修正。

实验室通常采用透射法法测定材料的不完整极图。

极图分析需要配合一系列的单晶体标准投影图进行分析。

反极图可以采用x射线衍射仪直接测定出来。