题目内容

Map方向的确定方法正确的有（）

A. 根据文件或文件夹中的信息来确定mapping的Notch方向
B. 根据Wafermap的行列数来确定Notch的大致方向
C. 通过WAFER上无效区域位置来判断Notch方向
D. 根据生产组长经验确定MAP旋转方向及MAP齐边方向

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A. 卫青
B. 高敖曹
C. 陈汤
D. 霍去病

A. 不同径线的变化率相同，同一径线的变化率不同
B. 角膜中央3mm大部分球形，周边为非球面
C. 若E大于0小于1，为椭圆形
D. E=1，为抛物线，E大于1，为双曲线

A. 65
B. 60
C. 70
D. 75

A. WAFERMAPPING批号与实际晶圆批号一致
B. 中测单中BIN的数目应与设备上所显示的BIN数目一致
C. 中测单中芯片数与MAP中BIN的数目
D. MAP旋转角度与晶圆统计表中角度是否一致
E. 文件名及编号与实际加工片号一致