题目内容

X控制图主要用于观察正态分布的（）的变化，R控制图用于观察正态分布的（）的变化，而X—R控制图则将二者联合运用，用于观察正态分布的变化

A. 均值、波动情况或变异度的变化
B. 波动情况或变异度的变化、均值
C. 产品合格率、误差的大小
D. 公差的大小、产品合格率

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A. p
B. c
C. u
D. X-Rs

A. Cp≤Cpk
B. Cpk≤Cp
C. p/Cpk=1-K
D. Cp/Cpk=1+K

A. 状态I：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
B. 状态Ⅱ ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态
C. 状态Ⅲ ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态
D. 状态Ⅳ ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

A. 计算过程能力指数
B. 计算过程性能指数
C. 评价过程能力
D. 评价过程性能