交叉污染来源主要有（）
A. 试剂针污染
B. 样本针污染
C. 比色杯污染
D. 搅拌杆污染
E. 清洗机构污染
BS430仪器分析部主要包括（）
A. 光学系统
B. 反应系统
C. 样本处理系统
D. 试剂处理系统
E. 液路系统
以下可能对Mg产生交叉污染的有（）
A. TC
B. TG
C. GLU-G
D. ALP
E. GGT
造成试剂针携带污染的可能原因有（）
A. 试剂针尖弯曲、特富龙涂层剥落、不洁净
B. 试剂针堵针
C. 冲洗水冲洗不充分
D. 试剂针吸到气泡
E. 强烈污染对相继测试
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