背金属芯片，整片晶圆芯片背金属脱落超过（）为不良？
A. 5%
B. 10%
C. 15%
D. 20%
中心柱频繁卡标（）。
A. 标签尺寸大小不一，接头没有接好
B. 驱动轮之间的间隙没有调好
C. 弹簧片张开太大
D. 切刀原点没有找好
适合度的卡方检验中，以下说法正确的是：（）
A. P值是实得数与理论数相差一样大或更大的积加概率
B. 自由度n是指预期决定后，实得数可自由变动的项数
C. 卡方适合子代数量较少的，子代数量较多是应用二项式展开
D. P值＜0.10时，认为差异显著，应推翻假设
工业炸药配方设计的基本原则为（）原则。
A. 正氧平衡
B. 负氧平衡
C. 零氧平衡
D. 接近零氧平衡
微信支付 
支付宝支付